10MDT-1.1C系列110工作距高倍远心
丰富客户的方案选择,方便加装AOI环形光源和外置同轴光
针对半导体、迷你LED、FPD显示、泛半导体等领域的高精度检测需求
配合1.1英寸相机使用,包含2X,3X,4X多种倍率
在分辨力上表现的更为突出,高达2.5μm
微米级消色差控制水平,光圈均匀、对比度好,光学畸变最大值<0.048%
透镜多层镀膜,使反射率最大值<0.5%
降低hotspot效应、降低杂散光亮度,提高成像质量
丰富客户的方案选择,方便加装AOI环形光源和外置同轴光
针对半导体、迷你LED、FPD显示、泛半导体等领域的高精度检测需求
配合1.1英寸相机使用,包含2X,3X,4X多种倍率
在分辨力上表现的更为突出,高达2.5μm
微米级消色差控制水平,光圈均匀、对比度好,光学畸变最大值<0.048%
透镜多层镀膜,使反射率最大值<0.5%
降低hotspot效应、降低杂散光亮度,提高成像质量
| 产品型号 | 倍率 (X) | 工作距离 (mm) | 像方视野 (mm) | 远心设计值 (°) | 景深 (mm) | 光圈 | 分辨力 (μm) | 像方MTF30 (LP/mm) | 文件预览 ( pdf ) |
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|---|---|---|
| XF-10MDT2X110-1.1C-VI | 探索 | |
| XF-10MDT2X110DZM-1.1C-VI | 探索 | |
| XF-10MDT3X110-1.1C-VI | 探索 | |
| XF-10MDT3X110DZM-1.1C-VI | 探索 | |
| XF-10MDT4X110-1.1C-VI | 探索 | |
| XF-10MDT4X110DZM-1.1C-VI | 探索 |
| 产品型号 | 倍率 (X) | 工作距离 (mm) | 像方视野 (mm) | 远心设计值 (°) | 景深 (mm) | 光圈 | 分辨力 (μm) | 像方MTF30 (LP/mm) | 文件预览 ( pdf ) |
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